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量块快速检测仪

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量块检测,量块

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标普纳米测控技术有限公司是国内*专业从事微/纳米光电测控技术研究、生产的股份制高科技企业,总部、研究所设在北京,生产基地建在廊坊开发区。拥有世界*水平的纳米研究检测中心、国内*的恒温楼等设施,和以0.1纳米基准仪、激光波长比较仪等为代表的*设备和仪器,突出的软硬件环境为公司众多专家从事纳米测控技术研究创造了极为难得的有利条件,同时也为公司的规模化生产奠定了基础。

标普公司在国内外有着较高的声誉与影响。先后被列为**、*火炬计划项目、国家重点技术改造“双高一优”项目、国家信息产业企业技术进步和产业升级重点项目等。经*鉴定,公司主导产品的主要技术性能已达到*水平,获得了中国科技发展基金会和中国仪器仪表学会科技创新奖等奖项。公司的主要技术专家在国内外享有较高声誉,曾为我国“两弹一星”的测控技术做出过重要贡献,先后应邀前往美国国家标准计量研究院、英国国家工程实验室、日本东京大学、澳大利亚南澳大学等地作专题学术报告。

微/纳米传感器。上百种规格品种,包括分辨率0.1纳米、1纳米、10纳米、100纳米等,测量范围1毫米、10毫米、100毫米等的各种传感器、超级千分表、超级杠杆表等;〈br〉
〈br〉
·数字化测试计量仪器。数十个系列,可测量块、钢球、薄膜、轴径、活塞销、晶片、集成电路、细丝、微孔、特大孔、内外螺纹等,可自动测量、自动记录、自动数据处理

LK系列量块快速检测仪是一种新型量块测量仪器。它将直接测量与相对测量结合起来,对尺寸10毫米及10毫米以下的量块实现了直接测量,对10-110毫米的量块进行相对测量,并且可与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了量块检验速度,减轻了检测人员的劳动强度。在国家规范条件下,可对全套83块量块全部进行测量,其中74块可以直接进行测量,其余9块可进行相对测量。应用在量块的长度、长度变动性、长度稳定度、平面平行性等项目的检定中。该仪器广泛应用于三、四、五等量块的检定及各种精密加工工件的高精度检测等。
主要参数:
型 号数显分辨率十次测量重复性稳定性(漂移)示值误差(微米)测量范围适用范围
比较法相对法
LK0050.05
μm
0.1
μm
≤100nm/小时±(0.15+0.015L)
±(0.05+0.005ΔL)
10 mm110 mm检新五等量块
LK0010.01
μm
0.03
μm
≤20nm/小时±(0.07+0.007L)


±(0.02+0.002ΔL)

10 mm110 mm检新四等量块
LK00050.005
μm
0.015
μm
≤10nm/小时±(0.04+0.004L)≤±
(0.015+0.0015ΔL)
10 mm110 mm检新三等量块
LK00010.001
μm
0.004
μm
≤5nm/小时±(0.02+0.002L)≤±
(0.007+0.0007ΔL)
10 mm110 mm 
注:(1)L-用法时,被测量块的名义长度。(单位:mm)       
(2)ΔL—用比较法时,被测量块与基准量块的长度差。(单位:μm)
构   成:
    主要由光电传感器、测量座、测量台、定温台、抬落机构、电动控制盒、数显表等部分构成。

特   点:
  1. 检定快速、准确。
  2. 测量值由数显表直接显示,读数方便可靠,减少人为读数误差(参看交流或直流数显表说明)。
  3. *的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好。
  4. 测量重复性好、4小时漂移量很小。
  5. 可实现任意位置清零、公/英制转换、预先置数、自动求zui大值和zui小值等多种智能功能。
  6. 可通过数据输出接口实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等。
  7. 对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不必提高温控要求即可使用。


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