XULM ,XULM-XYM X-射线电镀膜厚测厚仪

经过20多年的努力, 现在的荧光X-射线电镀膜厚测厚仪能够准确的测量微小面积的镀层厚度，测量精度达到纳米级,已被*电子零部件、印制电路板、汽车零部件、各种电镀产品生产及相关厂商广泛使用和认可。
电镀膜厚测厚仪应用 : 测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：CL（17）~U（92 ）。
行业 : 五金类、螺丝类、 PCB 类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色 : 非破坏，非接触式检测分析，快速精準。 可测量高达4层的镀层 （4层厚度 + 底材 ） 并可同时分析多至24种元素。 
 
电镀膜厚测厚仪测量模式用于：
 
单、双及三层镀层系统 
双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 
双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） 
能分析多达四种金属成分的合金，包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。 
可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。 
通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。 
可编程的应用项图标，用于快速产品选择。 
完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估。 
报告生成，数据输出 
语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 
菜单中的某些选择项可*使用
欲知详细内容，请您来电！金霖电子 岳    ：29371653    公司：www.kinglinhk.com    
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