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上海精科UV759紫外可见分光光度计

2024-04-22

产      地:
暂无
所在地区:
上海上海市
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上海精科UV759紫外可见分光光度计
 技术指标:
 ◆波长范围:190nm~1100nm
 ◆波长zui大允许误差:±0.5nm
 ◆波长重复性:≤0.2nm
 ◆光谱带宽:2nm
 ◆杂散光:≤0.05%(τ)(在220nm处以NaI测定,在360nm处,以NaNO2测定)
 ◆透射比测量范围:0.0%(τ)~200.0% (τ)
 ◆吸光度测量范围:-0.300(A)~3.000(A)
 ◆透射比zui大允许误差:±0.3%(τ)
 ◆漂移:≤0.001A/h(开机2h后,500nm处)
 ◆透射比重复性:≤0.15%(τ)
 ◆基线平直度:±0.002A(200nm~1050nm)
 ◆噪声:*(τ)噪声≤0.15%(τ) 0%(τ)噪声≤0.10%(τ)
 ◆扫描速度;快、中、慢
 ◆环境温度:5℃~35℃
 ◆环境湿度:≤85%
 ◆工作电压:AC220V±22V 50Hz±1Hz
 ◆额定功率:200W
 ◆主要配套件:热敏绘图仪(759S型配备)
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