产品介绍：
•产品名称：俄歇电子能谱仪（AES）
•产品型号：AER-200
•品 牌：日美纳米表面分析仪器公司（U-P）
•产 地：日本
产品参数：
• He以上所有元素纳米（约5nm）表面定性/表面定量/亚表层以及深度方向信息
•DETECT LIMIT 0.1%
•zui小束斑 6纳米
产品特点：
•美国
•日本技术
•90%*
•金属/半导体材料研发和故障分析的有力工具。
•空间分辨率高，信息深度5纳米以内
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