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BW17-XPR-300D-透反射偏光熔点仪 透射偏光熔点测定仪

2024-02-21

产      地:
暂无
所在地区:
北京北京市
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BW17-XPR-300D透反射偏光熔点仪 透射偏光熔点测定仪 产品名称: 透反射偏光熔点仪 透射偏光熔点测定仪
产品编号: 11809
产品型号: BW17-XPR-300D
产品展商: 北京百万电子科技中心

BW17-XPR-300D--透反射偏光熔点仪 透射偏光熔点测定仪详细介绍

一、仪器的主要用途和特点
    BW17-XPR-300D型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业zui常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察,正交偏光观察,锥光观察以及显微摄影,来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。

  本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域,适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。

  偏光显微熔点测定仪XPR-300系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前技术,多年研究开发的结果,在国内享有.本仪器的具有可扩展性,可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
二、仪器的主要技术指标
  1.显微镜技术参数:

名称

规格

总放大倍数:

40X---630X

无应力消色差物镜

4X/0.1

10X/0.25

25X/0.40

40X/0.65 弹簧

63X/0.85 弹簧

目镜

10X 十字目镜

10X 分划目镜

试片

石膏 1λ 试片

云母 1/4λ 试片

石英楔子试片

测微尺

0.01mm

滤色片

蓝色

带座目镜网络尺

 

移动尺

移动范围 30mm×40mm

镜筒

三目观察


2.熔点仪技术参数:

热台组成

性能

显微精密控温仪

  在 20倍物镜下工作温度可达到zui高300 ℃ 、温度运行程序全自动控制;温度程序段由用户自行设定, 30段温度编程,循环操作,能准确反映设定温度、炉芯温度、样品的实际温度。每段设定起始温度,及在该段内可维持时间,升温速率可调、精度 ± 0.3 ℃、记忆点读数

显微加热平台

  可以随载物台移动、工作区加热面积大、透光区域可调、工作区温度梯度低于± 0.1

· 起始温度室温
·工作区加热使用面积至少 1X1厘米
·工作区温度梯度不超过 ± 0.1
·透光区域 2mm以上,可调
·显示温度与实际温度误差不超过 ± 0.2
·热台可以随载物台移动

在加热状态下zui高可使用 20倍物镜

注意: 熔点测定(温度超过100度时,25X的物镜工作距离
太近,容易损坏镜头,请选用长工作距离的物镜25X、40X的物镜)
三、系统的扩展性
    XPR-300C型偏光熔点仪系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、*的计算机成像技术和精密的温控技术*地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察不同温度下的偏光效果图像,并对偏光图谱进行分析,处理,还可输出或打印偏光图片。
 
四、系统组成  
1、偏光显微镜XP-300          

2、数码适配镜

3、彩色数码相机(canon)

4、热台
 
 
五、选购部分
1. 偏光分析软件

:

传真:

手  机:

网  址: http://www.bw17。。net/  www.bw178。。com

电子邮件: bw17

 

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