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1、激光平面干涉仪的主要用途和特点  
　　　BW17-J4型激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器，主要用于精密测量光学平面度。仪器配有激光光源（波长为6328A）。对于干涉条纹可目视、测量读数、照相留存记录。工作时对防震要求一般。该仪器可应用于光学车间、实验室、计量室。如需配购相关的必要附件，可精密测量光学平板的微小楔角、光学材料折射率n的均匀性，光学镀膜面或金属块规表面的平面度，90o棱角的直角误差及角锥棱镜单角和综合误差。  
2、激光平面干涉仪的工作原理  
　　本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的 波动性的特性。  

3、仪器技术参数：   
1、*标准平面（A面），不镀膜。 工作直径：D1=Φ146mm  
　 不平度小于0.02μm（λ/30）。  

2、第二标准平面（B面），不镀膜。 工作直径：D2=Φ140mm  
　 不平度小于0.03μm（λ/20）。  

3、准直系统：孔径F/2.8， 工作直径：D1=Φ146mm 焦距：f=400mm.  

4、测微目镜：焦距f=16.7mm,放大倍数β=15X，视场角2w=40o  
　 成像物镜：I、D=4.5 П、D=7 Ш、D=10 f=16 f=23 f=37  

5、干涉室尺寸：深260*宽300*190mm。  

6、光源规格：激光ZN18（He-Ne）.  

7、仪器的外形尺寸：长*宽*高 350*400*720mm。  

8、仪器重量：100公斤。