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DRK-204C型高精度薄膜测厚仪(0.001μm)

2025-04-22

产      地:
国产
所在地区:
北京北京市
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高精度薄膜测厚仪(0.001μm) 型号:DRK-204C 货号:ZH8052
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薄膜检测仪对种薄膜测量厚度、均匀性、薄膜弹性模量等,并且可以与计算机连接通讯,实现数据自动处理,从而提高了检验速度,了检测人员的劳动强度。该仪器对环境温度波动不敏感,经济,适合于种薄膜企业的工艺控制和计量检测单位或的检测使用。
构成: 由光电传感器、测量座、抬落、数显表等部分组成。
特点:检定快速,准确。测量值由数显表直接显示,读数方便,减少人为读数误差;特的设计使仪器结构稳定性很高,温度稳定性很好;测量重复性好,漂移量很小。可实现位置清零、
公/英制转换、预先置数、自动求zui大值和zui小值等多种功能;可通过与计算机连接通讯实现测量结果的自动记录、自动处理、打印及统计分析等;对环境温度波动相对不敏感,现有基层计量室不
提高温控要求即可使用。
主要参数
数显分辨率:0.001μm
zui大示值误差:±(0.4+0.04L)μm
测量范围:0-10mm

 

 

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