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质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪

2025-05-22

产      地:
济南兰光机电技术有限公司
所在地区:
山东济南市
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  质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪,是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。

  质子交换膜的厚度直接影响其性能和寿命,因此需要精准的厚度数据作为研发参考,并确保膜材料具有良好的厚度均匀性。

  根据GB/T 20042.3-2022规定,厚度均匀性测试选用具有代表性的、无折皱、缺陷、破损的样品制为有效面积至少100cm2的圆形或者方形样品。利用精度不低于0.1μm的接触式测厚仪测试至少30个均匀分布点位的厚度值。连续测试3片样品,自动测得样品的平均厚度值,由此计算厚度极差、厚度相对偏差等值,来表征样品的厚度均匀性。


  需要重点注意的是,质子交换膜对压力敏感度高,因此标准强调,为了避免测量头接触试样导致试样变形,测试过程中测量头施加在样品表面的强度在0.7 N/cm2 ~2 N/cm2。

  质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪更多更深入的技术探讨,我们(Labthink兰光)期待与各行业中的企事业单位增进更多的技术交流与合作。

测试原理:将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。

执行标准:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)

应用材料:

基础应用:

薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定

纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定

扩展应用:

金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定

瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定

纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定

非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾等的厚度测定

其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定

质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪

质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪



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