ProSp-STAGE-RT透反射测量支架，由底座、高精密滑轨、载物台、精密位移台和2个准直透镜组成。这个支架可以测量固体样品的透反射光谱，也可以测量固体、粉末样品的荧光光谱（配套荧光探头）。对于反射光谱，可以实现上反射和下反射测量。测量距离可以调节，以适应不同厚度的样品
应用实例1-透过率测量
设备清单：
USB2000+光谱仪
SPL-HL钨灯光源
ProSp-STAGE-RT透反射测量支架
SPLF400-2-VIS光纤（2）
应用实例2-反射率测量
设备清单：
USB2000+光谱仪
SPL-HL钨灯光源
ProSp-STAGE-RT透反射测量支架
QR400-7-VIS-NIR反射探头
WS-1标准反射板
参数指标
| 规格 | ProSp-STAGE-RT |
| 底座尺寸 | 180mm直径 |
| 样品区域尺寸 | 130mm直径 |
| 重量 | 4KG |
| 粗调范围 | 0-100mm可调 |
| 精调范围 | 0-40mm,10um精度 |
| 光谱范围 | 200-2500nm |
| 台体材料 | 阳极氧化铝 |
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