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原位MEMS低温电学测量系统

2024-05-11

产      地:
暂无
所在地区:
北京北京市
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产品描述

PicoFemto透射电镜原位MEMS低温电学样品杆,是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块,实现低温电学测量或全温区测量功能。


• 性能指标

透射电子显微镜指标:

△ 兼容型号电镜及极靴;

△ 单倾可选高倾角版本;

△ 可选双倾版本,β角倾转±25°(同时受限于极靴);

△ 测量电极数可选。

电学测量指标:

△ 包含一个电流电压测试单元;

△ 电压输出最大±200 V,最小±100 nV;

△ 电流测量最大±1.5 A,最小100 fA;

△ 恒压或者恒流模式;

△ 自动电流-电压(I-V)测量、电流-时间(I-t)测量,自动保存。

低温指标:

△ 兼容MEMS加热及电学芯片;

△ 全温区测量,温度范围:85 K- 380 K;

△ 控温稳定性:优于±0.1 K;

△ 温度连续可控



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