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SuperViewW白光三维轮廓测量仪

2024-08-19

产      地:
学苑大道1001号南山智园B1栋2楼、5楼
所在地区:
广东深圳市
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中图仪器SuperViewW1白光三维轮廓测量仪由照明光源系统,光学成像系统,垂直扫描系统以及数据处理系统构成。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像,通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析,并获取反映器件表面质量的2D、3D参数,从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。

白光三维轮廓测量仪

SuperViewW1白光三维轮廓测量仪的双通道气浮隔振系统设计,既可以接入客户现场的稳定气源也可以采用便携加压装置直接加压充气,在无外接气源的条件下也可稳定工作,可以有效隔绝地面传导的振动,同时内部隔振系统能够有效隔绝声波振动,确保仪器在车间也能正常工作。


产品功能

(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能;

(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能;

(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能;

(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能;

(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。

白光三维轮廓测量仪

应用领域

对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

应用范例:

白光三维轮廓测量仪

应用行业

在3C领域,可以测量蓝宝石屏、滤光片、表壳等表面粗糙度;

在LED行业,可以测量蓝宝石、碳化硅衬底表面粗糙度;

在光纤通信行业,可以测量光纤端面缺陷和粗糙度;

在集成电路行业,可以测量硅晶片或陶瓷晶片表面粗糙度;

在EMES行业,可以测量台阶高度和表面粗糙度;

在军事领域,可以测量蓝宝石观察窗口表面粗糙度。

......


部分技术指标

型号W1
光源
白光LED
影像系统1024×1024
干涉物镜

标配:10×

选配:2.5×;5×;20×;50×;100×

光学ZOOM

标配:0.5×

选配:0.375×;0.75×;1×

物镜塔台

标配:3孔手动

选配:5孔电动


XY位移平台

尺寸320×200㎜
移动范围140×100㎜
负载10kg
控制方式电动
Z轴聚焦行程100㎜
控制方式电动
Z向扫描范围10 ㎜
主机尺寸(长×宽×高)700×606×920㎜

恳请注意:因市场发展和产品开发的需要,本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改,恕不另行通知,不便之处敬请谅解。

如有疑问或需要更多详细信息,请随时联系中图仪器咨询。


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