二手蔡司场发射电镜SUPRA 40VP蔡司新一代蔡司场发射扫描电子显微镜，具有高质量的成像和分析能力，将先进的场发射扫描电子显微镜技术与优秀的用户体验结合。利用Sigma系列直观的4步工作流程，在更短的时间内获得更多的数据，提高测试与生产效率。可选配多种探测器，以满足半导体、能源等新材料、磁性样品、生物样品、地质样品等不同的应用需求。结合蔡司原位电镜实验平台，可以实现自动智能化的原位实验工作流程，高效率获取高通量、高质量的原位实验数据。EDS几何设计保证了出色的元素分析性能，分析速度高、精度好、结果可靠。高分辨、全分析、多扩展、强智能、广应用，全新Sigma系列是助力于材料研究、生命科学和工业检测等领域的“多面手"。
[ 产品特点 ]
ü Gemini镜筒设计，低电压高分辨，无漏磁
ü 广泛全面的应用场景
ü 丰富灵活的探测手段
ü 智能高效的工作流程
ü 先进可靠的分析系统
ü 强大完善的扩展平台
[ 应用领域 ]
ü 材料科学，如纳米材料高分辨成像，高分子聚合物等不导电样品成像，电池材料成分衬度成像，二维材料分析
ü 生命科学，如生物样品超微结构成像，冷冻样品高分辨成像
ü 地质矿物学，如地质样品高分辨成像、成分分析以及原位拉曼联用分析
ü 工业应用，如组件失效分析，工艺诊断
ü 电子半导体行业，如质量控制与分析，6英寸Wafer快速换样，电子束曝光技术（EBL）
ü 钢铁行业，如夹杂物分析，金属材料自动原位成像分析
ü 刑侦、法医学
ü 考古学、文物保护与修复
NanoVP lite模式下断裂的聚苯乙烯表面成像
氧化铝颗粒高分辨二次电子成像
ETSE探测器氧化锌枝晶成像 InLens SE探测器氧化锆&氧化铁复合材料成像
用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜
灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能
将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
二手蔡司场发射电镜SUPRA 40VP用于清晰成像的灵活探测
利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。
利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
自动化加速工作流程
4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。
接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的最后一步，将结果可视化。
高级分析型显微镜
将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。
在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。
基于成熟的 Gemini 技术
Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。
Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
Gemini 电子束加
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