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粒子黑点杂质检测仪 (PS25C)

2023-12-04

产      地:
德国
所在地区:
上海上海市
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OCS 粒子黑点杂质检测仪 (PS25C),用于对透明和不透明树脂粒子进行检测,这些粒子通过一个料斗引入振动平台,使用高分辨率彩色摄像机进行分析,检测其中的缺陷、杂质或色差。PS25C可选多弹片分拣系统,对缺陷颗粒进行分拣。测量结果可实时传输到控制室 DCS 进行生产和工艺控制,以及对分拣出来的缺陷颗粒通过分析系统进行进一步评估,提升产品质量。


可测试的原材料 

■高透明粒子 

不透明粒子 



特点 

高性能3CMOS彩色矩阵相机 

可检测到的zui小杂质尺寸:10μm 

处理量可达25 公斤/小时,根据具体材料性能差异而不同 

结果实时可视化 

用于分拣杂质颗粒的多弹片分拣系统 


兼容于以下设备 

OCS 色度测量仪 (CM3) 

OCS粒子尺寸和形状分布测试仪 (PSSD) 

OCS粒子输送系统 (PTS)

粒子黑点杂质检测仪 (PS25C)

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