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Xstress DR45-芬兰品质便携式残余奥氏体测定仪

2024-08-12

产      地:
芬兰
所在地区:
北京北京市
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芬兰品质便携式残余奥氏体测定仪根据的是布拉格定律,使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体,适用于所有多晶体材料(包括陶瓷)。


芬兰品质便携式残余奥氏体测定仪主要特性:

1)适用于残余应力、残余奥氏体含量测定。

2)仪器稳定性好,重现性好,尤其适合现场快速分析。

3)采用计算机数据处理系统,更适用于对多个样品的联测。

5)界面美观,功能强大,操作简单方便。

6)测角仪采用了叠步倾转设计,侧头下部结构简单,在测量管材内壁或机轴凸角等复杂部位时十分方便。

7)软件更丰富、抗干扰能力更强,测试方法及可靠性更优。

芬兰品质便携式残余奥氏体测定仪主要技术指标:

测角仪
◆ 倾斜和旋转
◆ 改进的y几何(侧倾法)
◆ 对称安装的双探测器
◆ 连续可调的2q角范围:110-170度
◆ 多种准直器可更换,直径从Φ1到Φ5,包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小
◆ 全自动校准,自动调整测距,行程误差小于0.003mm

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