HORIBA SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

动态光散射粒径分布测定装置新型号，高灵敏度、高精度的测量；*表征单一体系纳米尺度粒子；*解析纳米粒子的物质结构。
主要应用范围为：陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳黑、制药、病毒、涂料、化妆品、聚合物、食品、CMP、颜料、油墨

粒子直径测定：
超宽动态光散射范围：0.3nm~8000nm
通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化
在单一纳米粒子光学系统中，采用更低杂散光90度检测光学系统
双光路系统（90度和173度）适用于更宽更浓度范围的样品测量，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等浓度样品的测定

产品特点：
可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量
样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下取样和测定
HORIBA自主研发的微量电泳样品池，可以测定仅100uL的Zeta电位
广泛应用于胶制粒子、机能性纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的测定
取样后，仅需按测定开始按钮即可，操作简单

粒子直径分布测定图例