采购中心

高分辨三维X射线显微成像系统━ 内部结构非破坏性的成像技术

眼见为实!这是我们常常将显微镜 应用于材料表征的原因。传统的显 微镜利用光或电子束，对样品直接 进行成像。其他的，如原子力显微 镜（AFM），则利用传感器来检 测样品表面。这些方法都能够提供 样品表面/近表面结构或特性的局 部二维图像。

但是，是否存在一种技术能实现以 下几点功能？ 

☉内部结构三维成像？ 

⊙一次性测量整个样品？ 

⊙直接检测？

⊙无需进行大量样品制备，如更换或 破坏样品，就能实现上述目标？

X射线就能实现！

SKYSCAN1273真正注重空间可用性， 台式样品腔可容纳高达500 mm、直径 达300 mm的超大样品，在过去，这通 常需要使用落地式系统才能实现。

◆它还 配备了精巧的样品座，能够实现任何尺 寸的样品的精准定位。 

◆SKYSCAN1273强劲的性能，源于其配 备的先进的组件：可在高功率情况下运行的（130 kV, 39 W）高能量X射线 源，即使面对大◆◆尺寸样品或高密度样品，也可以提供充裕的X射线强度。

◆平板探测器灵敏度高、动态范围大，能够 提供具有超高对比度的图像。

◆不仅如此，该探测器具有600万像素，视野范围大，输出速度快，15秒内即可 提供高清晰度图像，是快速CT的理想 之选。

◆即使是大尺寸样品，也能在数分 钟内完成扫描。

◆SKYSCAN 1273具有较低的拥有 成本。不同于落地式系统，台式 SKYSCAN„1273在*的实验室中 占地面积较小。

◆它无需冷水机或其它压 缩机，只需一个简易的家用电源插座。 

◆它采用封闭式X射线源，无需维护，不存在其它隐藏成本。