从光学图像无缝过渡到可以实时元素分析的SEM图像观察
主要特点
使用JCM-7000，您可以快速确认用光学显微镜无法判断的形貌和成分(元素组成)
SEM 成像到EDS分析无缝过度
- 良好的分析能力-
视觉峰值ID (VID):
以能谱的形式鉴定定量分析结果
探测跟踪:
校正长时间采集时的图像偏移
弹出式光谱:
从Maps成像结果中提取光谱
实时过滤:
提供更容易观测到的元素Maps图像
重新定位分析区域:
精确地返回到收集数据的区域
粒子分析:
分析提取粒子信息
JCM能够进行样品的观察和分析，不需要预处理，同时样品可以在测量后用其他仪器进行进一步的分析。
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北京培科创新技术有限公司
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