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日本三丰SV-2100系列表面粗糙度轮廓测量仪

Surftest (表面粗糙度测量仪) SV-2100
178 系列 — 带有控制/ 装置型表面粗糙度测量仪
高精度，高性能友好界面，操作更简单。

产品特点：

•显示一目了然，操作简单。配备可见度7.5英寸TFT LCD屏幕。彩色图标显示、触控式面板，显示更清晰，操作更简单。

•轻松定位使用控制器内置的操纵杆，轻松、快速地定位。小孔内侧的测量，需要对微小测头进行微调。利用手动手柄，实现轻松微调。

•轻松设置表面粗糙度的测量条件。利用配备的简单输入功能，可按照ISO/JIS粗糙度标准的绘图指令符号进行输入。以往非常麻烦的测量条件设置如今可轻松输入，从菜单上直接选取表面粗糙度的绘图指令符号即可。

技术参数：

X轴(驱动部)

测量范围: 100mm

分辨率: 0.05μm

检测方法:线性编码器

驱动速度: 0 - 40mm/s

测量速度: 0.02 - 5mm/s

移动方向:向后

直线度: 0.15μm / 100mm Z2轴(立柱)

类型:手动操作或电驱动

垂直移动: 350mm或550mm*

分辨率*: 1μm

检测方法*:旋转编码器

驱动速度*: 0 - 20mm/s *仅适于电驱动型检测器

范围／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,8μm / 0.0001μm

检测方法:无轨／有轨测量

测力: 4mN或0.75mN (低测力型)

测针针尖:金刚石、90o/ 5μmR (60o/ 2μmR:低测力型)

导头曲率半径: 40mm

检测方法:差动电感式控制器

显示: 7.5"带背光的TFT彩显

打印机:内置热敏打印机

放大倍率:水平: X10至X500,000、自动垂直: X0.5至X10,000、自动

驱动装置的控制:通过操纵杆手动手柄的操作

评估能力：

评估轮廓P (主轮廓), R (表面粗糙度轮廓), WC, WCA, WE, WEA,包络残余线、粗糙度motif、波形motif评估参数Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr(c), dc, mr,tp, Htp, Lo, Ir, Ppi, HSC, Da, Dq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, la, lq粗糙度motif参数: R, AR, Rx波形motif参数: W, AW, Wx, Wte分析图表ADC, BAC,功率谱图数显滤波器2CR-75%, PC-75%、高斯滤波器、鲁棒样条截止波长ls: 0.25μm, 0.8μm, 2.5μm, 8μm, 25μm, 250μm、无滤波器lc*: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm lf: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm、无滤波器采样长度(L)* 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm, 80mm (仅适于SV-2100)数据补偿功能抛物线补偿、双曲线补偿、椭圆补偿、R平面(曲面)补偿、锥面补偿、倾斜补偿*在0.02mm至50mm的范围内可任意长度。

日本三丰SV-2100系列表面粗糙度轮廓测量仪

性能参数：