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SunScan专业版植物冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是尽量是在接近中午的时候）。专业版比标准版配置上增加了BF5日照传感器，用来参照测量直接和散射的入射光，提高测量精度

SunScan专业版植物冠层分析仪技术规格：

Sunscan探头探测区域：100cm(长)×1.3cm(宽)，传感器间距1.56cm

光谱范围：400～700nm（PAR）

测量时间：120毫秒

读数范围：0～2500 μmol.m-2.s-1

分辨率：0.3 μmol. m-2.s-1

线性：优于1%

精度：±10%

模拟输出：1mV/μmol. m-2.s-1

通讯端口：RS232，9针D型接口

防护等级：IP65

工作温度：0～60℃

尺寸：130×10×13cm

重量：1.7kg

供电：4节AA碱性电池，可以使用1年

掌上数据管理器：显示屏1/4 VGA防日光显示屏

操作系统：Windows Mobile 6

显示选项：叶面积指数（LAI）、平均光合有效辐射、所有单个传感器的读数

防护等级：IP67

工作温度：-30～+60℃

跌落高度：1.2米

供电：可充电电池，可连续使用12小时

内存：>100MB可用

尺寸规格：165×95×45毫米

重量：450克