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美国TSI 3330-美国TSI 3330型光学颗粒物粒径谱仪

2024-03-16

产      地:
美国
所在地区:
上海上海市
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仪器简介:
3330型光学颗粒物粒径谱仪简单轻便,能够对颗粒物浓度和粒径谱分布进行快速和准确的测量。基于TSI40年气溶胶仪器设计的经验,本款产品使用120度光散射角收集散射光强度和精密的电子处理系统,从而得到高质量和高精度的数据。同时,TSI工厂严格的标定标准也确保仪器的精确性。3330不仅可以单独使用,而且还可以放入TSI的外场环境箱中在野外使用。
技术参数:

测量原则 

120°光散射和滤膜采样

浓度限制

zui高3,000/ cm3,000,000/L

质量浓度 

0.001-275,000 mg/m3

颗粒物粒径

检测粒径范围               0.3-10 mm 

粒径分辨率                 0.5mm5%(符合ISO 21501-01/04

粒径通道                   zui多16通道,用户可调

主要特点:

  • 0.5微米时粒径分辨率小于5%
  • 粒径通道用户可调
  • 检测粒径范围:0.3-10微米,zui多16通道
  • 颗粒物粒径感应范围:0.525 mm
  • 检测浓度范围:0-3000  /cm3
  • 彩色触摸屏,直观的用户界面
  • *ISO 21501-01/04要求
  • 输入折射率和密度可以同时显示颗粒物数浓度和质量浓度
  • 收集的采样膜可进行称重测量和化学分析
  • 电池电量可供20小时的操作
  • zui多可存储30000个数据
  • 记录每个样品的温度和压力
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