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xstress3000残余应力测量仪根据的是布拉格定律，使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体，也适用于所有多晶体材料(包括陶瓷)。

此设计主要是针对应力测量用的，非常方便，对操作者来说也很安全。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。

xstress3000残余应力测量仪组成：

主控单元

可自由调整。超紧凑设计

包括

-电源

-电子部件和固件控制单元

-高压发生器

-自循环液体冷却系统，不需外部供水

-确保安全所需的所有互锁装置

残余奥氏体测量

xstress3000残余应力测量仪技术指标：

电缆线：标准配置为5米

电源：100-240 VAC，50/60Hz，600V

尺寸：主控单元 X3003：552x413x254mm

测角仪 G3：555x492x574mm

测角仪 G3R：966x573x605mm