用于测定溶液浓度和透明物质的光学特性,以及光源的特性研究、物理量测量(如:光电接受元件的光谱特性、滤光片的吸收特性)、与光学多层镀膜机配套(如:精确控制窄带滤光片镀膜的膜层厚度)。
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