用于测定溶液浓度和透明物质的光学特性，以及光源的特性研究、物理量测量（如：光电接受元件的光谱特性、滤光片的吸收特性）、与光学多层镀膜机配套（如：精确控制窄带滤光片镀膜的膜层厚度）。
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