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蔡司推出新型场发射扫描电子显微镜
2020年11月26日 08:50:18
来源：蔡司 点击量：19038
近日，蔡司展示了其新一代的场发射扫描电子显微镜(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560专为亚纳米成像和轻松分析而量身定制。用户将受益于电子光学技术的创新和提供更好图像质量，可用性和灵活性的新型腔室设计。
【化工仪器网 新品推荐】近日，蔡司展示了其新一代的场发射扫描电子显微镜(FESEM)系列ZEISS GeminiSEM。新型蔡司GeminiSEM 360、460和560专为亚纳米成像和轻松分析而量身定制。用户将受益于电子光学技术的创新和提供更好图像质量，可用性和灵活性的新型腔室设计。
现已推出的ZEISS GeminiSEM 560首次将以ZEISS Gemini 3色谱柱推向市场。
新型蔡司GeminiSEM系列可提供任何样品的更多信息，较大程度地减少样品损坏并防止样品伪影。这三种型号均采用全新的腔室设计，使研究人员能够比以前引入更大和更多的样品，从而使核心设施现在可以在一台仪器中为更多的分析应用提供服务。蔡司双子座电子光学镜筒的独特设计以及大而灵活的新型反应室，可满足所有成像和分析需求。较大的腔室可实现可配置性和灵活性，以适应即将到来的研究任务并优化分析工作流程。
新型电子光学柱和智能自动驾驶仪
蔡司GeminiSEM 560设定了表面成像的新标准。引入了带有纳米双透镜的新型蔡司Gemini 3电子光学器件及其新型电子光学引擎Smart Autopilot，该器件经过定制，可在以高分辨率对敏感的样品成像时易于使用。在蔡司GeminiSEM系列产品中，560型在所有工作条件下均可提供较高分辨率，并在着陆能量低于1 kV时突破了浸没和无单色表面成像的极限。
非导电矿物蒙脱石在断裂表面上的纳米级特征，在低着陆能量下可视化，蔡司GeminiSEM 560，Inlens SE图像，800 V，比例尺为100 nm。
在成像和分析中提高效率和易用性
该系统可以轻松地从标准设置过渡到高级设置。新的概览模式简化了样品的定向。用户可以轻松地从低放大率导航到高放大率，而无需调整列的对齐方式。该系统可提供同类产品中大的无失真视场。这样就可以对大型的，具有挑战性的样品进行成像，例如材料研究中的磁性样品。改进后的自动功能是目前世界上较快的，其自动对焦功能可在不到一秒钟的时间内提供聚焦图像。
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