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《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》意见征求
2020年01月17日 13:12:20
来源：化工仪器网 点击量：6468
为了应对我国科研和生产部门的需要，规范我国此类检测工作，指导日常的测试工作，国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会等单位共同起草了《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》。
【化工仪器网 政策标准】纳米材料可以分为纳米颗粒、纳米纤维和纳米片，针对纳米颗粒的尺寸测量，我们已经建立了详细的基于原子力显微术的测量方法，用于规定通过原子力显微镜测量纳米颗粒高度来表征纳米颗粒尺寸的方法，而针对二维纳米材料的高度测量方法，目前和国内都没有相关标准。
为了应对我国科研和生产部门的需要，规范我国此类检测工作，指导日常的测试工作，国家纳米科学中心、纳米技术及应用国家工程研究中心、北京粉体技术协会等单位共同起草了《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》。
据了解，该标准制定是由中国科学院提出，全国微束分析标准化技术委员会归口，按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草的。经过不断的试验与研究，标准题目也从初的《利用原子力显微镜测量纳米颗粒粒径大小的标准方法》演变成为《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》，并将标准范围定为二维纳米材料中常用的二硫化钼片层材料，附录增加了样品制备过程及测量数据不确定度分析。在标准起草工作组进行了大量的实验验证工作后，于近日面向社会发布了标准的征求意见稿。
阅读标准后可知，《表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》的内容包括有范围、规范性引用文件、术语和定义、方法概述、仪器和辅助设备、试剂与实验材料、样品制备、测量步骤及结果、不确定度评定、测量报告以及资料性附录，规定了利用原子力显微术测量二硫化钼片层材料厚度的测量方法。
通过标准可知，试验所需的仪器有原子力显微镜、等离子清洗机、超声清洗仪、移液枪、压缩气体等，标准不仅对样品制备的衬底处理、二硫化钼片层材料的转移以及待测样品的存放步骤进行了详细介绍，还对测量步骤的设备校准、环境条件、开机准备、探针的选择、成像模式的选择、扫描范围的设定、图像的获取与处理等步骤进行了论述。
此外，标准在起草过程中还引用了GB/T 27760《利用Si(111)晶面原子台阶对原子力显微镜亚纳米高度测量进行校准的方法》、GB/T 33714《纳米技术 纳米颗粒尺寸测量 原子力显微术》等标准文件。小编也相信随着本标准的建立和实施，将有助于增进我国原子力显微镜技术在纳米材料测量领域的发展，引导和规范我国原子力显微镜分析技术。
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