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      德国徕卡显微系统公司专业生产：DVM5000HD高清光学数码显微镜，DVM2500实时动态三维光学数码显微镜，DM8000M，DM12000M晶圆检查显微镜，FPD,COG，导电粒子检查显微镜，DM8000M-UV,DM12000MUV OLED检查显微镜，DM系列CD测量设备，DM系列铸造合金孔隙率检测显微镜。

       德国LEICA 徕卡晶圆和FPD检查显微镜LEICA DM8000M LEICA DM12000M  是经典的INM100,INM200,INM300显微镜的较早换代产品  产品特性● 0.7倍高级宏观物镜视野达到40毫米● 徕卡的立体斜照明，可以快速检查晶圆表面的微小裂纹 ●所有物镜均带电子CODE,可被软件自动识别，刻度尺自动伸缩，无需自选● 徕卡的超级暗场术背景更黑缺陷一目了然 ● UV高分辨率，可以快速直接观察到120纳米的线条 ●立体UV观察，可以对凸块，沟槽侧壁清晰地观察 ●大型载物台搭载：可用于400*300mm液晶基板，300mm晶圆全面检查(DM12000M)● 采用高NA的透射光聚光镜，图象更锐利● 多种观察方式，多种照明方式，多种附件以满足不同应用要求● 透射和反射照明可同时使用，*提高液晶基板观察效果LEICA DM8000M LEICA DM12000M 产品特点缩短检查用时，提高检查效率自动聚焦附件透射光检查照明*的自动聚焦附件可配合所有的反射光照明观察方式，甚至包括暗视场和微分干涉相衬观察。实现快速和精确的自动对焦，甚至观察方式转换时也能实时准确的找到焦面。两种照明装置可选，通用型及高数值孔径型。为FPD，MASK板检查提供合适的照明，并且可配备起偏镜，实现投射光简易偏光观察。高反差，更高分辨率，更高倍率检查用于光刻胶残留检查的荧光观察方式荧光分光镜模块 UV光学系统可以提供更高的反差和分辨率，分辨率可达0.12μm。备有U.B.G等多种荧光方式可选，用于光颗胶残留以及OLED检查。方便的通讯接口用于显微镜倍率和孔径光阑的控制和参数获得 RS232C用于晶圆以及器件，甚至焊脚的内部检查近红外线观察附件标配包括一个RS232C接口，使得用PC控制显微镜电动部分成为可能，并且可以实现使工艺线上的几台显微镜都在同样的设定状态下工作。包括专门的红外物镜等附件，对从可见光到近红外波段光线的像差做矫正，用于IC深层或内部检查，可实现对WAFER BUMP的全面检查自动线宽CD测量附件以亚像素技术实现高度精确的CD测量，OVERLAY测量，套刻测量

     作为世界Z*的光学仪器厂家，160年来徕卡公司推出了世界*的LEICA金相显微镜，工业显微镜，偏光显微镜，立体显微镜，体视显微镜，实体显微镜，测量显微镜，图像分析系统，工业切片机，工业检测系统。  将光学技术,电子技术,自动化技术和软件技术结合起来,德国徕卡能为电子行业，汽车行业，材料行业的特定检测需求提供更加专业的解决方案。