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本公司生产的椭偏仪适用于大学和科研院所，具有高精度和完整的测量功能。仪器的状态调整、参数设置、数据采集和处理，均通过计算机自动完成。从红外至紫外的宽广光谱区，波长连续可调，入射角度在20度到90度内连续可调。产品主要有两个系列:1.全自动高精度椭圆偏振光谱仪（ELLIP-SR型）－专业型 主要适用于科研院所的信息光电子功能薄膜、体材料的光学性质和结构特性研究，可被研究材料种类包括：金属和合金、元素和化合物半导体、绝缘体、超导体、磁性和磁光材料、有机材料、多层薄膜材料等。在测量中，可按研究条件同时对入射角和波长进行自动精细扫描，增加研究的灵活性，便于用户获得更多的光谱信息进行数据分析，提高研究的质量和可靠性。该光谱仪的性能指标达到同类技术的*水平 。主要技术参数： 波长范围 250-830nm(可按需拓展) 光源 氙灯入射角范围 20-90度 波长分辨率 1.0nm 入射角范围 20-90度 入射角精度 0.001度 椭偏参数精度 D±0.02度；Y±0.01度 光学常数精度 优于0.5％ 膜厚准确度 ±0.1nm 测量方式 同步 定标方式 自洽、 探测器 光电倍增管 主要用途： 1. 各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析； 2. 测量薄膜材料的折射率和厚度； 测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、薄膜材料、光电材料、非线性材料； 测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R. 　2.全自动单波长椭圆偏振光谱仪（ELLIP-ER型）-普及型 。本公司研制的固定波长可变入射角椭圆偏振光谱仪，广泛适用于大学教学和工业生产领域，具有很高的性价比，为一款普及型的光谱测试仪器。 主要技术参数：波长 650nm 光源 半导体激光器 入射角范围 20-90度 测量模式 反射 测量方式 旋转起偏和检偏器，自动完成信号测量 实测光学常数种类 复折射率 复介电常数 吸收系数 反射率 膜厚精度 ±1nm 系统定标方式 自洽、定标 　 主要用途： 1.各种功能材料的光学常数测量和光谱学特性分析； 2.测量薄膜材料的折射率和厚度； 测量对象包括：金属、半导体、超导体、绝缘体、非晶体、超晶格、磁性材料、光电材料、非线性材料；测量光学常数：复折射率的实虚部、复介电常数的实虚部、吸收系数a、反射率R.