GB/T 2423.16—2008/IEC 60068-2-10:2005 电工电子产品环境试验第2部分∶试验方法 试验J及导则∶长霉

范围

GB/T 2423的本部分规定了确定电子产品上长霉程度和长霉对产品特性及其他相关性能影响的试验方法。

由于长霉条件包括高的相对湿度，本试验也可以用于评价电子产品在潮湿条件下一段时期的运输、贮存以及使用的适应能力。

一般说明

本试验涵盖了霉菌孢子的接种，以及在适宜条件的培养。

本部分给出了两种实验方法。方法1是在无培养基的情况下，霉菌孢子直接在样品上接种。方法2则在有促其生长的培养悬浮液预先处理的情况下接种。

推荐使用诸如ISO846中制定的针对塑料的试验规程来评定所使用的结构材料的抗霉能力。注∶对工业产品开展微生物试验的实验室应当通过GB/T27025认可，更多信息参见附录F.

灰尘、污迹、冷凝挥发营养物质或油脂形式的表面污染可能沉积在样品上。这些污染可能在产品直接暴露于大气或者是在无防护条件下的使用、贮存和运输中造成。这种表面污染能引起霉菌植入的增加，可能导致霉菌进一步的生长和破坏。污染的影响可由试验方法2来评定。

由于在一个很大的试验箱内难于维持必要的条件，大型整机产品可分作若干零部件试验。若几个零部件结构相似，为了节约试验费用，试验其一即可。