BC3193 BC3193半导体分立器件测试系统

BC3193 半导体分立器件测试系统

系统用途

BC3193半导体分立器件测试系统是半导体参数测试的设备, 用于半导体器件生产厂家进行圆片中测或封装成测，各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析测试

系统特点

◆  PC机为系统的主控机

◆  菜单式测试程序编辑软件操作简便

◆  预先连接测试自动识别NPN/PNP

◆  0～±2000V程控高压源

◆  高达±1000A程控高流源

（外接高流台可扩充到±1000A）

◆  测试漏流zui小分辨率达6.1pA

◆  四线开尔文连接保证加载测量的准确

◆  通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家   计量标准对系统进行校验

◆  Prober接口、Handler接口可选（16Bin）

◆  可为用户提供丰富的测试适配器

测试对象

二极管/稳压管/恒流二极管/整流桥/瞬态抑制管：  BVR、IR、VF、VZ、RZ

三极管：  BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT

可控硅：    BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、     

IH、IL、VGT、VON

场效应管：      BVDSO、BVDSS、BVDSR、BVDGO、BVGDS、BVGSO、BVGSS、GFS、IDSO、IDSS、IDSR、IG、IGDO、IGSO、IGSS、RDS（on）、VDS（on）、VGS、VGS（th）、VP

IGBT：         BVCES、BVCGR、BVGES、ICES、IGES、VCESAT、VGETH、VGS（off）

达林顿矩阵：ICEX、 IIN（ON）、 IIN（Off）、 VIN（on）、 IR、VCESAT、BVR、HFE、ICEO

单结晶体管：Iv、Vv、IP、VP、VEB1、ETA、RBB、IEB1O、IB2

光敏二、三极管：ID、IL、VOC、 ISC、BV、BVCE

光 耦（输出类型：二极管、三极管、可控硅、MOSFET）：   CTR、BVECO、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBESAT、VCESAT、IR、IAKF、IAKR （加时间测量选件Tr、Tf、Toff、Ton）

40A/30V程控电流电压源（VIS）二块；

±2000V程控电压源（HVS）一块；

电流/电压转换板（IVC）一块；

电源控制板（PWC）一块；

测试台矩阵板（STATION）一块；

自检模板2个；

测试适配器4个（二极管、TO-92、TO-3、TO-220）