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GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统
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    docx
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    62.1KB
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    221次
  • 上传时间

    2020年09月28日
关键词
精密阻抗,高温阻抗,压电阻抗
上传者
北京精科智创科技发展有限公司
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资料简介

GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统

      材料分析夹具及配备分析软件

 

关键词:阻抗分析,压电陶瓷,

GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统是国内符合LXI标准的新一代高温压电阻抗测试仪器,其0.1%的基本精度、20Hz~5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求,可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。

GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统产品超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机,压电器件的频率响应曲线分析等等。其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求。

GWZK-03A高温精密压电阻抗分析测量系统产品以其的性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试。 目前该阻抗分析在全国各大学校和科研院所中广泛使用。

一、常温下可测量产品广泛应用范围:

1. 无源元件:传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器电,压电器件,芯片组件和网络元件等的阻抗参数分析和性能分析

2. 半导体元件:变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析

3. 其他元件:印制电路板,继电器,开关,电缆,电池等的阻抗评估

4. 介质材料:塑料,陶瓷和其他材料的介电常数和损耗角评估

5. 磁性材料:铁氧体,非晶体和其他磁性材料

6. 半导体材料:半导体材料的介电常数,电导率和C-V特性

7. .液晶材料:液晶单元的介电常数、弹性常熟等C-V特性

三、高温主要测量参数:

1、测量以下参数随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:

2、测量电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(¢)、电导(G)、电纳(B)、导纳(Y)、损耗因子(D)、品质因素(Q)等参数,

3、同时计算获得反应材料导电、介电性能的复介电常数(εr)和介质损耗(D)参数。

二、主要技术参数:

1.测试频率:20HZ-10MHZ(特殊可以定制)

2. 测试电平:10mV5V±(10%+10mV

3.温度范围:-80-600℃(可选)

2、测温精度      0.1

3、升温速度      120C/min3.

4. 测试参数:C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,

5.控温模式:  程序控制,提供常温、变温、恒温、升温、降温等多种组合方式

6. 基本准确度: 0.1%

7.电极材质:   铂铱合金

8.软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXTXLSBMP等格式文件

9. 显示器: 350×260点阵图形LCD液晶显示

10. 可测量22种阻抗参数组合

11. 接口方式: RS232CHANDLER

12. 电压:AC-220V

13. 体积:高80mm*宽205mm*长230mm

14. 重量:3.5KG

15、外形尺寸:     L360mm*W370mm*H510mm

16、净   重:          22KG

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