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Labthink兰光 | 薄膜测厚仪产品介绍

来源:济南兰光机电技术有限公司   2020年09月28日 10:26  

Labthink兰光 | 薄膜测厚仪产品介绍

 

  Labthink兰光生产与供应薄膜测厚仪,欢迎您咨询薄膜测厚仪的详细信息!Labthink兰光供应的薄膜测厚仪有不同的型号,不同型号的薄膜测厚仪应用范围与功能会有细微的差别,我们将会为您提供*、全面的薄膜测厚仪方案。Labthink兰光,致力于通过包装检测技术提升和实验室检测仪器研发帮助客户应对包装难题,助力包装相关产业的品质安全。了解关于更多相关信息,您可以登陆济南兰光机电技术有限公司网站查看具体信息或致电咨询。Labthink兰光期待与行业中的企事业单位增进技术交流与合作。

 

C640薄膜测厚仪

C640测厚仪是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪,专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。可选配自动进样机,更加准确、高效的进行连续多点测量。

C640测厚仪设备技术特征:
1、专业——Labthink在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现*测试稳定性、重复性及精度。
2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程;智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。
3、智能——搭载Labthink新一代版控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储;支持Labthink*的DataShieldTM数据盾系统(可选配置),为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

测试原理:
将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上,与下测量面平行且中心对齐的上测量面,以一定的压力,落到薄型试样的另一面上,同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离,即为薄型试样的厚度。

C640测厚仪执行标准:
ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中国《药品生产质量管理规范》(GMP)对软件的有关要求(可选配置)

应用材料:
基础应用:
薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定
纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定
扩展应用:
金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定
瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定
纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定
非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、kou罩等的厚度测定
其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定

C640测厚仪技术指标:
① C640M型号参数:
测试范围(标配):0~2mm
分辨率:0.1μm 
重复性:0.8μm
测量范围(选配):0~6、0~12mm
测量间距:0~1000mm(可设定)
进样速度:1.5~80mm/s(可设定)
附加功能:
自动进样机:可选配置
DataShieldTM数据盾:可选配置
GMP计算机系统要求:可选配置
测量方式:机械接触式
测量压力及接触面积:
薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)
净重:26kg
② C640H型号参数:
测试范围(标配):0~2mm
分辨率:0.1μm 
重复性:0.4μm
测量范围(选配):0~6、0~12mm
测量间距:0~1000mm(可设定)
进样速度:1.5~80mm/s(可设定)
附加功能:
自动进样机:可选配置
DataShieldTM数据盾:可选配置
GMP计算机系统要求:可选配置
测量方式:机械接触式
测量压力及接触面积:
薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2
纸张:100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa(可选配置)、200 mm2
电源:220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz
外形尺寸:370mm(L)× 350mm(W)× 410mm(H)
净重:26kg

 

CHY-C2A薄膜测厚仪

CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度高精度测量。

CHY-C2A测厚仪技术特征:
严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择
实时显示测量结果的大值、小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告

执行标准:
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817

CHY-C2A测厚仪技术指标:
负荷量程:0~2 mm(常规)
0~6 mm;12 mm (可选)
分辨率:0.1 μm
测量速度:10 次/min (可调)
测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重:32kg

仪器配置:
标准配置:主机、标准量块一件
选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机

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