手机版
化工仪器网手机版
化工仪器网小程序
官方微信
公众号：chem17
扫码关注视频号
Subnano3D干涉轮廓仪建立在移相干涉测量(PSI)、白光垂直扫描干涉测量(VSI)和单色光垂直扫描干涉测量(CSI)等技术的基础上，以其纳米级测量准确度和重复性(稳定性)定量地反映出被测件的表面粗糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。
Subnano3D干涉轮廓仪产品优点：
1、美国硅谷研发的核心技术和系统软件。
2、关键硬件采用美国、德国、日本等。
3、PI纳米移动平台及控制系统。
4、Nikon干涉物镜。
5、NI信号控制板和Labview64 控制软件。
6、TMC光学隔振台。
7、测量准确度重复性达到不错的水平(中国计量科学研究院证书)。
Subnano3D干涉轮廓仪产品优点：
1、美国硅谷研发的核心技术和系统软件。
2、关键硬件采用美国、德国、日本等。
3、PI纳米移动平台及控制系统。
4、Nikon干涉物镜。
5、NI信号控制板和Labview64 控制软件。
6、TMC光学隔振台。
7、测量准确度重复性达到不错的水平(中国计量科学研究院证书)。
免责声明
- 凡本网注明“来源：化工仪器网”的所有作品，均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-化工仪器网合法拥有版权或有权使用的作品，未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的，应在授权范围内使用，并注明“来源：化工仪器网”。违反上述声明者，本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源（非化工仪器网）的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品第一来源，并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。
采购中心
