一般情况下,使用低加速电压,能够更好地观察表面的微细结构。使用高加速电压,电子束在样品中的扩散区域增大,从样品内部产生的不必要的信号(如背散射电子)会掩盖样品表面的微结构。特别是在观察密度低的物质时,以低加速电压为好。
图1 入射电子的扩展(根据Duncumb和Shields的理论) 图2 加速电压的效果
图3 样品:百合花花粉,放大倍数:×900,(a)如图所示,使用30kV的高加速电压,就难以获得表面结构的衬度;(b) 如图所示,使用5kV的高加速电压,清楚的显示了表面的微细结构。
(a)30kV (b)5kV
图4 样品:喷金粒子,放大倍数:×50,000,如图所示使用30kV的电压,图像的清晰度和分辨率高。
(a)30kV (b)5kV
图5 样品:滤纸,放大倍数:×900,如图所示使用5kV的电压,入射电子的扩散区域较浅、样品表面的结构显露得清楚。
(a)30kV (b)8kV
图6 样品:铝合金,放大倍数:×1500,如图所示使用高加速电压时,样品内部的结构物质产生的散射电子增多,表面的微细结构衬度欠缺。另外,样品内部物质的不同衬度也显露出来。
(a)30kV (b)8kV
图7 样品:铝合金(Zn MAP图像),放大倍数:×1500,如图所示使用高加速电压时由于入射电子的扩散区域增深,导致元素分布不清楚。
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