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TOFD全解析-07

来源:北京新兴日祥科技发展有限公司   2020年05月11日 09:52  

TOFD全解析-07

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上一期留下一个问题就是,在B扫图像上深度相同的缺陷一定在相同的深度上吗?答案是不一定的,为什么呢?下面就该问题进行详细说明。

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首先按照之前将的TOFD视图构成方式里讲的,在TOFD的B扫视图中,相同的深度代表的是相同的声时,也就是声音的传播时间相同,而从发射探头到缺陷,缺陷再到接收探头的整个路径上,如果传播时间相同,则这些点的连线并不是一条直线,而是一条椭圆线,如下所示。

所以等时椭圆线上任何位置的缺陷,具有相同的传播时间,也就是说声时相同的缺陷信号在一个椭圆线上分布。

当然实际上,这个椭圆并没有像上图那样的大曲率,尤其是在中间的焊缝区域的深度变化不是很大,所以可以认为深度近似一致。但如果是在探头下方的母材中存在缺陷,有可能深度误差比较大。

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还有大家需要了解一点,TOFD检测上下表面都是有盲区的,而且上表面的盲区会比下表面的盲区更大一些。下面具体看一下哪些地方有盲区呢?

上表面盲区:由于直通波信号具有一定宽度,而产生上表面盲区。

 

而直通波的盲区大小跟许多因素相关,其中包括探头的频率、探头PCS(中心距),楔块角度等。

后面会专门用一个章节来讲述如何减小直通波的盲区问题。

下表面盲区:由于缺陷偏离探头中心位置而产生的盲区。

如下图所示,由于底波信号也是等声时的,而底波的信号非常强烈,所以如果缺陷位于偏离探头中心位置,信号会出现在底波信号之后,从而被淹没在底面反射波之中。

 

还有一种可能产生盲区的原因是在纵缝检测中,如下图所示。

当检测纵缝时,两个探头位置低于中心的焊缝区域,此时直通波是两个TOFD的出射点的连线,这样在两点连线以上的区域也是一个较大的盲区位置。

 

 

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此处对TOFD的盲区进行初步的讲解,后面还会有专门的章节介绍盲区相关的内容,而TOFD的盲区也是TOFD一个重要的概念,也是主要需要考虑的问题。

待续

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文章转自工业检测大时代

 

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