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UV-A型紫外辐照计有两种，分别是单通道和双通道，用来测量紫外线辐射的强度，在各个行业被广泛应用。我们今天来了解一下紫外辐照计的特点。UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。山东桑泽仪器生产的UV-A型紫外辐照计，有单通道和双通道两种，欢迎前来选购。
UV-A型紫外辐照计的技术指标：
项目 | 参数 | 备注 |
波长范围λ1，峰值波长λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 配备两只探头 |
波长范围λ2，峰值波长λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
辐照度测量范围 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外带外区杂光 | 0.02% |
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相对示值误差 | ±8％（相对于NIM标准） |
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角度响应特性 | ±5% （α≤10°） |
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线性误差 | ±1% |
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换档误差 | ±1% |
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短期不稳定性 | ±1%（开机30min后） |
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零值误差 | 满量程的±1% |
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响应时间 | <1秒 |
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使用环境 | 温度(0~40)℃；湿度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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电源 | 6F22型9V积层电池（非充电电池） |
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整机功耗 | ＜0.1VA |
UV-A型紫外辐照计的特点我们来介绍一下，首先光谱及角度特性经严格校正，数字液晶显示，带背光，可手动/自动量程切换，低电量时可提醒等等。所以被广泛适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。如果您需要购买UV-A型紫外辐照计，请咨询山东桑泽仪器仪表有限公司
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