当前位置:苏州方特电子科技有限公司>>材料物性检测设备>>安规计量仪器>> QNIX4200/4500QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪
技术参数 | |
磁性基体(Fe模式) | QNix4200/4500均有此功能 |
非磁性基体(NFe模式) | QNix4500有此功能 |
测量范围 | QN4200:Fe:0-3000um |
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um | |
QNIX4500(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um | |
显示精度 | 0.1um |
精度 | 0-50um:≤±1um |
50-1000um:≤±1.5%读数 | |
1000-3000um≤±3%读数 | |
zui小接触面 | 10×10mm/QNix4500 |
zui小曲率半径 | 凸面:3mm;凹面:25mm |
zui小基体厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm |
温度补偿范围 | 0-60℃ |
显示 | LCD液晶(带背光) |
探头 | 红宝石固定式 |
电源 | 2×1.5V干电池 |
尺寸 | 100×60×27mm |
重量 | 110g |
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