赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RT Series简介：

●半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

●Detector X-tlt与Y-tilt Axis增加2.5D view的自由度

●Multi-layer PCB佳的检测方案

●可安装Oblique/Cone-beam CT

●赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160RT Series选配AXI S/W功能可进行量产检测

1.赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160ER Series：

·精密分析及3D view佳的检测设备

·半导体，电子产品，封装等产品精密分析用非破坏性检测设备

·可搭载Option自动检测S/W，通过手动装料后的自动检测，可实现产品全检

·通过Dual CT (Oblique CT, Cone-beam CT)方式的3D检测，提供高分辨率

·高精度的分析检测环境

2. 赛可（SEC）X-RAY检测设备SF160F/N Series：

·精密分析及2.5D view佳检测设备Detector rotation,简便·快速获取2.5D viev最大可实现900 x 900mm的Table size, 可检测大型PCB和LED

·选配AXI S/W功能可进行量产检测