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| 产地类别 | 进口 | 应用领域 | 化工 |
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海德汉公司的光学扫描光栅尺或编码器的测量基准都是周期刻线－光栅。这些光栅刻在玻璃或钢材基体上。对于大长度的光栅尺，用钢带作为光栅尺基体。
海德汉公司用以下特别开发的光刻工艺制造精密光栅。
• METALLUR：抗污染的镀金层金属栅线；典型栅距：20 μm
• SUPRADUR相位光栅：光学三维平面格栅；*抗污能力；典型栅距：
产品简介
详细介绍
敞开式HEIDENHAIN直线光栅尺LIC 2117，LIC 2197
式直线光栅尺，测量长度达3 m
• 测量步距100 nm或50 nm
• 将钢尺带穿入铝壳中并在中间位置固定
• 直线光栅尺和读数头配套使用
增量测量法的磁栅由周期性栅线组成。通 过计算自某点开始的增量数（测量步距 数）获得位置信息。由于必须用参考 点确定位置值，因此测量基准的光栅尺上 还有一个参考点刻轨。在光栅尺上，由参 考点确定的位置是在一个信号周期分 配的。因此，必须通过扫描参考点建立绝 对基准点或确定上次选择的原点。
在不理想的情况下，可能需要运动机床 测量范围的相当大部分。为加快和简化 “参考点回零”操作，许多海德汉尺带距 离编码参考点，这些参考点之间彼此相距 数学算法确定的距离。因此只需运动数毫 米，一旦移过两个相邻参考点后，后续电 子电路就能找到参考点位置（见下 表）。距离编码参考点的光栅尺在型号后 均带字母“C”（例如LIF 181C）。
敞开式HEIDENHAIN直线光栅尺
对于距离编码参考点，参考点B的位 置用两个参考点间步距数和以下公式计 算：
