J-RAS离子迁移试验装置ECM-500系列

J-RAS离子迁移试验装置ECM-500系列

绝缘抵抗测定器

型号：

ECM-500/40-n

ECM-500/100-n

离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE）,经过长时间的测试（1～1000 小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION）,并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF 试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。（ION MIGRATION TESTING） 适用规格：JPCA-ET01-2001

可在1v ~ 500v的宽外加电压和CH个别电压输出下进行各种样品的测试

通过配备信道单独计测电路进行50msec/CH的高速扫描处理

用响应速度低于100nsec的瞬时泄漏电流检测电路，捕捉到泄漏触摸现象

多达100ch的壳体小型轻量，不选择场所设置，移动也容易

利用仓门打开的接点进行紧急停止或暂时停止的安全功能

采用不同CH的彩色电缆，减少焊接作业的负担，防止出错。

简单易用的软件

J-RAS离子迁移试验装置

用途

印刷电路板、焊锡、树脂、绝缘材料等的迁移评价。

多达500v的外加电压可满足汽车电子相关厂商的测试要求。