FIB显微镜 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 是一款超高分辨率分析系统，可为的广泛类型的样品，包括磁性和不导电材料提供出色的样品制备和三维表征性能。

 Scios 2 DualBeam系统创新性的功能设计，优化了样品处理能力、分析精度和易用性，是满足科学家和工程师在学术和工业环境中进行高级研究和分析的理想解决方案。

Scios 2 DualBeam可快速轻松的定位制备各类材料的高分辨S/TEM样品。系统配备Thermo Scientific Auto Slice&View软件，可以高质量、全自动地采集多种三维信息。无论是在STEM模式下以30kV来获取结构信息，还是在较低的能量下从样品表面获取无荷电信息，系统可在广泛的工作条件下提供出色的纳米级细节。Scios 2 DualBeam可帮助所有经验水平的用户更快、更轻松的获得高质量、可重复的结果，此外，系统专为材料科学中具挑战的材料微观表征需求而设计，配备了全集成化、极快速MEMS热台，可在更接近真实环境的工作条件下进行样品表征。

FIB显微镜 Thermo Scientific Scios 2 DualBeam 特点：

☆ 使用Sidewinder HT离子镜筒快速、简便地制备高质量、定位TEM和原子探针样品；

☆ Thermo Scientific NICol 电子镜筒可进行超高分辨成像，满足广泛类型样品的成像需求；
☆ 各类集成化镜筒内及极靴下探测器，采集优质、锐利、无荷电图像，提供完整的样品信息；
☆ 高度灵活的110mm样品台和内置的Thermo Scientific Nav-Cam相机实现样品导航；
☆ DCFI、漂移抑制技术和Thermo Scientific SmartScan等模式实现无伪影成像和图形加工；
☆ 灵活的DualBeam配置，优化解决方案满足特定应用需求。