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DantecFlawExplorer无损检测系统

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  • 型号 DantecFlawExplorer
  • 品牌
  • 厂商性质 代理商
  • 所在地 上海市
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更新时间:2022-11-22 15:14:56浏览次数:644

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产品简介

产地类别 进口
DantecFlawExplorer无损检测系统 像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂力学,冲击激发,霍普金森杆试验或冲击试验。

详细介绍

DantecFlawExplorer无损检测系统                   DantecFlawExplorer无损检测系统

DantecFlawExplorer无损检测系统                   DantecFlawExplorer无损检测系统

三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,非接触和三维动态测量的形状,位移和应变的元件和结构几乎任何材料。基于数字.01%左右。三维高速图像相关系统Q-450允许全场,。基于数字图像相关技术,设计了Q 450系统,用于全场振动分析和高速瞬态事件。例如:弹道试验,断裂场光学测量和高时间分辨率.动态范围从静态到超过100,000赫兹,具有测量从微米到米范围的位移的能力。分辨率一般在1微米左右,应变为0.01%左右。

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