Mitutoyo三丰M Plan ApoNIR 50× 378-825-5 返回列表页

 基准尺可作为长度追溯标准，用于校准测量
仪器。可使用在投影仪、显微镜的工作台等
光学测量机等测量仪器的日常点检、定期点
检。
• 这些刻度都是高精度平板印刷技术做成的。
三丰在专门的地下设施中开发这些技术，是
客户用来生产高精度刻度的，每种类型都有
不同的尺寸，以便满足不同应用的需要

 Mitutoyo三丰M Plan ApoNIR 50× 378-825-5

视频显微镜单元
VMU 
大视场视频显微镜单元
WIDE VMU 

精密显微镜单元
FS70 
明视场用物镜
(长工作距离
)
M Plan Apo/M Plan Apo HR 
明视场用物镜
(超长工作距离
)
M Plan Apo SL 
明视场用物镜
(玻璃厚度校正)
G Plan Apo
明暗视场物镜
(长工作距离)
BD Plan Apo/BD Plan Apo HR
明暗视场物镜
(超长工作距离
)
BD Plan Apo SL
(近红外区
)
M Plan Apo NIR/M Plan Apo NIR HR,
M Plan Apo NIR B
明视场用物镜
(液晶玻璃厚度校正 近红外区
)
LCD Plan Apo NIR/LCD Plan Apo NIR HR 
明视场用物镜
(近紫外区
)
M Plan Apo NUV/M Plan Apo NUV HR 
明视场用物镜
(液晶玻璃厚度校正 近紫外区

LCD Plan Apo NUV/LCD Plan Apo NUV HR
明视场用物镜
(紫外区
)
M Plan UV 
明视场用物镜
(液晶紫外区
)
LCD Plan UV
成像
(镜筒
)透镜
MT 
测量显微镜用物镜
ML 
定心显微镜用物镜
CF 
大视场目镜
/分划板
WF/UWF
各种显微镜选件
支架、工作台、照明装置 
外形尺寸
(VMU/WIDE VMU/FS70
解说：接口螺纹标准
三丰物镜的光学特性

 陶瓷直线规
311 系列 — 直线度量具
SM-C

• 陶瓷直线规是对机床、三坐标测量机、机床
半导体相关设备以及形状测量系统中的各轴
移动部件进行检测的主要量具之一。
• 精密研磨基准面比传统型号具有更高的精
度。
• 氧化铝陶瓷制造，具有高抗磨损性，且几乎
没有长期变化。
• 有3 种类型(高精度，超高精度和双面型) 可
供选择满足大部分应用的需求。双面型有2
个基准面，用于检查2 个直角方向的直线度

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