MtiinstrumentsASP-5000M-CTR电容探针

MtiinstrumentsASP-5000M-CTR电容探针       MtiinstrumentsASP-5000M-CTR电容探针

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MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间个BNC到°F)准确%以内构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的高度柔性电缆：1M(3.28处校准到已知标准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI准时力额定值标准：1400 kPa(200 Psig)材料：不锈钢结构，无活动内部电子设备用于ILR/ILA/PSR探针的为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI探针可供1200°C参考MTI工厂使用为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI工厂使用为了消除这些变化的影响，MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中，每个探头由两个电容传感器组成，组成一个探头体。每个传感器在相同的电压下驱动，但是信号之间有180度的相移。这一转变允许当前的路径穿越目标表面，而不是通过目标到地面，消除了由不精确的目标造成的任何不准确现象。此外，这种技术可以测量高电阻的目标，允许电容传感器用于半绝缘和半导电目标(用于位置、间隙和振动测量应用)。电缆和探头温度额定值：-130°C(-202°F)-200°C(392°F)低温和高温探针可供1200°C参考MTI工厂使用