MtiinstrumentsASP-50M-CTR电容探针

MtiinstrumentsASP-50M-CTR电容探针      MtiinstrumentsASP-50M-CTR电容探针

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MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化作导电材料的非接触式测电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目电容测量探头长期以式测量手段MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目电容测量探头长期以式测量手段。在一个典型与目标表面之间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目电容测量探头长期以式测量手段期以式测量手段MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目电容测量探期以式测量手段MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目电容测量探