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MtiinstrumentsASP-250M-CTA电容探针 MtiinstrumentsASP-250M-CTA电容探针
MtiinstrumentsASP-250M-CTA电容探针 MtiinstrumentsASP-250M-CTA电容探针
MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间形成的电压力的地靶作为另一个板为了消除这些变化的影响,MTII开发了一种称为推拉的Accu测量传感器的*版本。在本设计中,每个探头由两个电容传感器组成,组成一个探头体MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间形成的电压力的地靶作为另一个板为了消除这些变化的影响MTI电容测量系统是基于平行板电容测量原理的。电容探头与目标表面之间形成的电容随这两个表面之间的距离(间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间隙)的变化而变化。电容测量探头长期以来一直被用作导电材料的非接触式测量手段。在一个典型与目标表面之间形成的电压力的地靶作为另一个板为了消除这些变化的影响