顶空分析仪

顶空分析仪X-325i是基于光学感应的荧光衰减法检测原理，顶空分析过程不对样品进行采样，对顶空样气体积及顶空条件（如负压）无要求，小样气量仅需0.1ml即可完成精准分析。有别于传统方法诸如电化学、氧化锆等对样气量、顶空条件（负压）有要求的采样分析方式。

顶空分析仪使用荧光法特质的荧光贴片OXYDOT，可以实现无损检测分析，应用于长期的包装稳定性研究。也可应用于溶液配液罐顶空残氧分析。

荧光检测原理：氧分子和荧光贴片中的荧光物质接触后，使得荧光物质发射的荧光信号减弱，信号衰减程度和氧含量成正比。基于光学感应原理，不取样分析，不受顶空条件影响。

X-325I是一款荧光衰减法氧气/溶氧多功能分析仪，荧光感应原理，无取样分析方式。对容器顶空条件无要求，适用于目前制药行业所有的包装形式，符合ASTM F2714-08。

特征：

● 零样气消耗，只需要极少的样气量，少0.1ml

● 可实现对顶空氧及液体溶解氧同时分析检测

● 自动生成数据随时间变化曲线

● 内置温度和压力补偿

● 支持无损检测分析，实现留样分析

● 传感器免维护，无需更换

● 设备零维护，*

● 数据自动无限储存，PDF导出

X-325I是一款荧光衰减法氧气/溶氧多功能分析仪，荧光感应原理，无取样分析方式。对容器顶空条件无要求，适用于目前制药行业所有的包装形式，符合ASTM F2714-08。