移动式高低温冷热冲击试验箱

 移动式高低温冷热冲击试验箱廣泛用於電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件汽車配件、金屬、 化學材料、塑膠等行業,國防工業航太、兵工業、BGA、PCB基扳電子晶片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復抵拉力及產品於熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的元件，可作為其產品改進的依據或參考。

移动式高低温冷热冲击试验箱的性能参数参考如下：

一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。

二、温度偏差：±2℃。

三、温度波动度：±0.5℃。

四、温度恢复时间：≤5min。

五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。   

七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。

八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）

十、型号             内箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5       

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

移动式高低温冷热冲击试验箱符合标准
GJB360.7-87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验;
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱--- -箱式;
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱---箱式;
满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化;
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则;
GB/T 2423.22-2002温度变化;