J200飞秒激光剥蚀进样系统

J200飞秒激光剥蚀进样系统为准确定量的分析元素和同位素测量样品相匹配的标准物质用的设备，采用长激光脉冲的系统改变剥蚀样品的数量和化学成分，这意味着剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性，具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气，功能直观、带图形界面，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式。

基本参数：
1、供电要求：110-240VAC,50/60Hz；
2、重量：272Kg；
3、产品尺寸：1780X660X760mm；
4、自动X-Y轴：100mmX100mm行程范围，分辨率0.2微米；
5、激光脉冲能量：343nm-1030nm；
6、样品成像光源： 泛光LED灯。

设备特点：
1、系统还可以对植物叶片进行深度的分析；
2、可编制成组，自动顺序执行，使测量工作高度自动化；
3、用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式；
4、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态；
5、用户可将多个硬件部件运行命令集合，并按时间顺序排列；
6、易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式；
7、连续可调光学衰减器，集成激光能量监测单元。

J200飞秒激光剥蚀进样系统用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式， 长激光脉冲系统产生的样品颗粒大（常大于数微米），驻留在输送管中，导致运输效率低，并且降低了分析的灵敏度，用户可*依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS系统，用户简单、方便地操作硬件部件。只需简单点击tab键，用户即可检查飞秒激光、气流系统、光模块、3-D操作台、自动高度调节传感器、样品室等部件的工作状态。