金属表面镀层XRF测厚仪 返回列表页

金属镀层XRF测厚仪是天瑞仪器镀层系列产品中的“明星产品”，其配置基本达到了智能化水平，二维移动平台基本达到了三维效果，测试点与点之间的微小距离更加，采用上照式方式，满足不同规格产品的检测，降低了对产品规格的要求，满足拿来即测的需求，主要应用在镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑、镀银等金属镀层厚度检测

性能特点

采用高度定位激光，可自动定位测试高度

定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐

鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点

高分辨率探头使分析结果更加精准

良好的射线屏蔽作用

测试口高度敏感性传感器保护

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求

高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm

产品介绍

名称及型号：金属镀层XRF测厚仪

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

温度适应范围为15℃至30℃。

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg