X荧光快速测厚仪 返回列表页

产品介绍

X荧光快速测厚仪是一款无损测厚仪器，主要针对金属镀层：镀金，镀银，镀铜，镀锡，镀铬，镀铑，镀钯，镀锌……，thick800a-X荧光快速测厚仪是公司目前销量，性价比的一款仪器。

X荧光快速测厚仪性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

X荧光快速测厚仪技术指标

型号：Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

部分产品

x荧光镀层测厚仪，金属镀层测厚仪，X荧光电镀层测厚仪，镀层膜厚测试仪，铜上镀镍金测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，国产X射线镀层测厚仪，xrf镀层膜厚测试仪，X荧光镀层膜厚仪，X射线镀层膜厚仪，五金电镀层测厚仪，x光镀层测厚仪，镀金层无损X射线测厚仪，led支架镀银层测厚仪，国产镀层测厚仪，X荧光镀层测厚仪厂家，国产X荧光镀层测厚仪，x光镀层测厚仪，X射线镀层测厚仪价格，天瑞镀层测厚仪，X荧光金属膜厚测厚仪，XRF镀层测厚仪，x荧光金属测厚仪，无损金属镀层测厚仪,镀金膜厚仪,PCB表面镀层测厚仪,金属镀层分析仪，X荧光快速测厚仪。

应用领域

X荧光快速测厚仪广泛用于金属镀层（镀金、镀银、镀镍、镀铬等）的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、高压开关、制冷设备、胶粘制品、电子电器、气配五金、卫浴、贵金属等行业。